價(jià)格 | 面議 | 起訂量 | 1件起訂 |
更新時(shí)間 | 2024-08-19 | 區(qū)域 | 陜西省·西安 |
BW-3010B
晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)
BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設(shè)置,測試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A,操作簡便,實(shí)用性強(qiáng)。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗(yàn)、產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。
產(chǎn)品電氣參數(shù):
產(chǎn)品信息
產(chǎn)品型號(hào):BW-3022A
產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀;
物理規(guī)格
主機(jī)尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)
主機(jī)重量:<4.5Kg
主機(jī)顏色:白色系
電氣環(huán)境
主機(jī)功耗:<75W
環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲(chǔ)存)、5℃~50℃(工作);
相對(duì)濕度:≯85%;
大氣壓力:86Kpa~106Kpa;
防護(hù)條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;
電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;
工作時(shí)間:連續(xù);
服務(wù)領(lǐng)域:
應(yīng)用場景:
?選型配對(duì)(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對(duì))
?檢驗(yàn)篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對(duì)入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)
產(chǎn)品特點(diǎn):
?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單
?大容量EEPROM存儲(chǔ)器,儲(chǔ)存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號(hào)數(shù).
?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.
?內(nèi)置繼電器矩陣自動(dòng)連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.
?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達(dá)1500V;
?重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題;
?軟件自校準(zhǔn)功能;
?自動(dòng)測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試;
?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示;
?兩種工作模式:手動(dòng)、自動(dòng)測試模式。
BW-3010B主機(jī)和DUT的管腳對(duì)應(yīng)關(guān)系
型號(hào)類型 |
P1 |
T1 |
P2 |
T2 |
P3 |
T3 |
P4 |
T4 |
光藕PC817 |
A |
A測試端 |
K |
K測試端 |
E |
E測試端 |
C |
C測試端 |
BW-3010B測試技術(shù)指標(biāo):
1、光電傳感器指標(biāo):
輸入正向壓降(VF)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
反向電流(Ir)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-200UA |
0.2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
集電極電流(Ic)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-40mA |
0.2MA |
<1%+2RD |
VCE:0-20V IF:0-40MA |
輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC:0-40mA IF:0-40mA |
輸出漏電流(Iceo)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2.000mA |
2UA |
<2%+2RD |
VR:0-20V |
2、光電耦合器:
耐壓(VCEO)測試指標(biāo)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-1400V |
1V |
<2%+2RD |
0-2mA |
輸入正向壓降(VF)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2V |
2mV |
<1%+2RD |
0-1000MA |
反向漏電流(ICEO)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
BVCE=25V |
反向漏電流(IR)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2000uA |
1UA |
<5% +5RD |
VR=0-20V |
電流傳輸比(CTR)
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-9999 |
1% |
1% +5RD |
BVCE:0-20V IF:0-100MA |
輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))
測試范圍 |
分辨率 |
精度 |
測試條件 |
0-2.000V |
2mV |
1% +5RD |
IC:0-1.000A IF:0-1.000A |
可分檔位總數(shù):10檔
BW-3010B測試定義與規(guī)范:
AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.
VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時(shí)的測試電流.
Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電壓.
Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時(shí)輸入的測試電流.
CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時(shí)輸入端的測試電流。
CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時(shí)輸出端的測試電壓。
Vsat:IF:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸入端的測試電流。
Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時(shí)輸出端的測試電流。