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陜西博微電通科技有限責(zé)任公司

主營:半導(dǎo)體測試設(shè)備,分立器件測試系統(tǒng),光耦測試,半導(dǎo)體可靠性測試,半導(dǎo)體實驗室,雪崩浪涌測試,晶體管測試系統(tǒng)
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博微BW-3010B 晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)

2024-08-19 瀏覽次數(shù):170 本頁網(wǎng)址: http://alisonmuttonphotography.com/sell/show-2497.html 舉報
博微BW-3010B  晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)
價格: 面議
起批量: 1 件起批
區(qū)域: 陜西省·西安
Tags關(guān)鍵詞:
半導(dǎo)體測試設(shè)備,分立器件測試系統(tǒng),光耦測試
聯(lián)系人: 武先生
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詳細(xì)介紹

BW-3010B

晶體管光耦參數(shù)測試儀(雙功能版)

BW-3010B型光藕參數(shù)測試儀是專為各種4腳三極管型的光電耦合器的功能和參數(shù)測試及參數(shù)”合格/不合格”(OK/NO)判斷測試。 ,BW-3010B為各種三極管型4腳光藕提供了輸入正向壓降(VF)和輸出反向耐(ICEO)、耐壓BVCEO、傳輸比(CTR)等 。中文軟件界面友好,簡化了系統(tǒng)的操作和編程,提供了快速的一次測試條件和測試參數(shù)的設(shè)定,測試條件及數(shù)據(jù)同步存入EEPROM中,測試條件可以任意設(shè)置,測試正向壓降和輸出電流可達(dá)1A,操作簡便,實用性強。廣泛應(yīng)用與半導(dǎo)體電子行業(yè)、新能源行業(yè)、封裝測試、家電行業(yè)、科研教育等領(lǐng)域來料檢驗、產(chǎn)品選型等重要檢測設(shè)備之一。

產(chǎn)品電氣參數(shù):

產(chǎn)品信息

產(chǎn)品型號:BW-3022A

產(chǎn)品名稱:晶體管光耦參數(shù)測試儀;

物理規(guī)格

主機尺寸:深 305*寬 280*高 120(mm)

主機重量:<4.5Kg

主機顏色:白色系

電氣環(huán)境

主機功耗:<75W

環(huán)境要求:-20℃~60℃(儲存)、5℃~50℃(工作);

相對濕度:≯85%;

大氣壓力:86Kpa~106Kpa;

防護條件:無較大灰塵,腐蝕或爆炸性氣體,導(dǎo)電粉塵等;

電網(wǎng)要求:AC220V、±10%、50Hz±1Hz;

工作時間:連續(xù);


服務(wù)領(lǐng)域:

image.png

     應(yīng)用場景:

    ?選型配對(在器件焊接至電路板之前進(jìn)行全部測試,將測試數(shù)據(jù)比較一致的器件進(jìn)行分類配對)

    ?檢驗篩選(研究所及電子廠的質(zhì)量部(IQC)對入廠器件進(jìn)行抽檢/全檢,把控器件的良品率)

    產(chǎn)品特點:

    ?大屏幕液晶,中文操作界面,顯示直觀簡潔,操作方面簡單

    ?大容量EEPROM存儲器,儲存量可多達(dá)1000種設(shè)置型號數(shù).

    ?全部可編程的DUT恒流源和電壓源.

    ?內(nèi)置繼電器矩陣自動連接所需的測試電路,電壓/電流源和測試回路.

    ?高壓測試電流分辨率1uA,測試電壓可達(dá)1500V;

    ?重復(fù)”回路”式測試解決了元件發(fā)熱和間歇的問題;

    ?軟件自校準(zhǔn)功能;

    ?自動測試測DUT短路、開路或誤接現(xiàn)象,如果發(fā)現(xiàn),就立即停止測試;

    ?DUT的功能檢測通過LCD顯示出被測器件/DUT的類型,顯示測試結(jié)果是否合格,并有聲光提示;

    ?兩種工作模式:手動、自動測試模式。

         BW-3010B主機和DUT的管腳對應(yīng)關(guān)系

型號類型

P1

 T1

P2

 T2

P3

T3

P4

T4

光藕PC817

A

A測試端

K

K測試端

E

E測試端

C

C測試端

                                                BW-3010B測試技術(shù)指標(biāo):

1、光電傳感器指標(biāo):

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA



反向電流(Ir)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-200UA

0.2UA

<2%+2RD

VR:0-20V



集電極電流(Ic)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-40mA

0.2MA

<1%+2RD

VCE:0-20V IF:0-40MA

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC0-40mA

IF:0-40mA

輸出漏電流(Iceo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000mA

2UA

<2%+2RD

VR:0-20V

2、光電耦合器:

耐壓(VCEO)測試指標(biāo)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-1400V

1V

<2%+2RD

0-2mA

輸入正向壓降(VF)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2V

2mV

<1%+2RD

0-1000MA

反向漏電流(ICEO)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

BVCE=25V

反向漏電流(IR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2000uA

1UA

<5% +5RD

VR=0-20V

電流傳輸比(CTR)

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-9999

1%

1% +5RD

BVCE0-20V

IF:0-100MA

輸出導(dǎo)通壓降(VCE(sat))

測試范圍

分辨率

精度

測試條件

0-2.000V

2mV

1% +5RD

IC0-1.000A

IF:0-1.000A

可分檔位總數(shù):10檔

       BW-3010B測試定義與規(guī)范:

AKEC:表示引腳自左向右排列分別為 光耦的,A K E C極.

VF:IF: 表示測試光耦輸入正向VF壓降時的測試電流.

Vce:Bv:表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電壓.

Vce:Ir: 表示測試光耦輸出端耐壓BVCE時輸入的測試電流.

CTR:IF:表示測試光耦傳輸比時輸入端的測試電流。

CTR:Vce:表示測試光耦傳輸比時輸出端的測試電壓。

Vsat:IF:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時輸入端的測試電流。

Vsat:Ic:表示測試光耦輸出導(dǎo)通壓降時輸出端的測試電流。




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