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陜西博微電通科技有限責任公司

主營:半導體測試設(shè)備,分立器件測試系統(tǒng),光耦測試,半導體可靠性測試,半導體實驗室,雪崩浪涌測試,晶體管測試系統(tǒng)
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博微BW-UIS-3500 雪崩耐量測試系統(tǒng)

2024-08-19 瀏覽次數(shù):160 本頁網(wǎng)址: http://alisonmuttonphotography.com/sell/show-2499.html 舉報
博微BW-UIS-3500  雪崩耐量測試系統(tǒng)
價格: 面議
起批量: 1 件起批
區(qū)域: 陜西省·西安
Tags關(guān)鍵詞:
雪崩耐量測試, 雪崩浪涌測試,晶閘管測試
聯(lián)系人: 武先生
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詳細介紹

BW-UIS-3500

雪崩耐量測試系統(tǒng)



       

技術(shù)指標:

>  浪涌電流(IFSM/ITSM)調(diào)節(jié)范圍:0.30~3.60kA

>  分辨率0.01kA,精度±3%±0.01kA

>  電流波形:正弦半波,底寬10ms

>  測試頻率:單次

>  反向電壓(VRRM)調(diào)節(jié)范圍:0.20~2.00kV,分辨率0.01kV,精度±5%

>  反向電壓測試頻率:50Hz;

>  反漏電流(IRRM)測試范圍;1.0~100.0mA,分辨率0.1mA,精度±5%±0.1mA

工作方式:

>  由觸摸液晶屏設(shè)定浪涌電流大小、反向電壓值及反向漏電流保護值

>  按測試按鍵后設(shè)備自動完成測試

外形尺寸:

>  600×800×1900×1(寬×深×高×并柜數(shù),單位:mm)

系統(tǒng)說明:

>  上述設(shè)備配置輸出及測試線,但不含測試用“夾具”。該“夾具”用于滿足元件按照標準進行測試時所要求的溫度和壓力測試條件。

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半導體雪崩耐量測試儀  半導體雪崩耐量測試儀 半導體雪崩耐量測試儀

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